Oberflächenanalyse
CSI Nordic kann mittels fortgeschrittener Oberflächenanalyse oberflächenrelatierte Probleme lösen. Dies können zum Beispiel Verfärbungen von Metallflächen, Probleme mit der Oberflächenreinheit von Materialien oder Haftungsprobleme von Beschichtungen sein. Wir können die chemische Zusammensetzung und Dicke von Nanometer dicken Filmen bzw. Mikrometer dicken Metallbeschichtungen bestimmen.
Oberflächentopographie und Koordinatenmessung
CSI Nordic bietet Topographiemessung con Produkten zur Bestimmung der Oberflächenbeschaffenheit und der Geometrie. Wir messen die Makrogeometrie mittels einer Koordinatenmessmaschine oder die Oberflächenbeschaffenheit und kontrollieren ob Komponenten die Toleranzanforderungen erfüllen. Die Topographiemessung wird oft in Verbindung mit Schadensforschung und Fehlerursachenanalzsen verwendet um das Ausmaß von Oberflächenschäden zu quantifizieren. Z.B. Die tiefe von Korrosionsangriffen oder das Verschleißvolumen einer verschlissenen Werkzeugoberfläche.
Wir helfen Ihnen gerne mit Ihren oberflächenbezogenen Problemstellungen bzw. bei der Bestimmung von Topography oder eventuellen Oberflächenverunreinigungen.
Ausrüstung
- FT-IR Spektrometer, Spectrum One Perkin Elmer. Organische Materialien wie Plastik, Öle, Fette usw.
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), Oxford PentaFETx3. Alle elektrisch leitende Materialien
- Elektronenrückstrahlbeugung (EBSD), Oxford Instruments HKL, NordlysF. Zur Bestimmung von Phasen und Kristallorientierung
- Augerelektronenspektroskopie (AES), PHI 700 Field Emission Scanning Auger Nanoprobe. Chemische Analzse auf Nanometeerniveau. Nur elektrisch Leitfähige Materialien
- Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Zeiss ULTRA 55. Alle Materialien
- Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS), PHI TRIFT II, Chemische Analyse auf Nanometerniveau. Alle Materialien
- Interferenzprofilometrie, Wyko NT9100. 3D-topographische Abbildung auf Nanometerniveau.
- Koordinatenmessmaschine, Johansson Coordimatic CEJ 7000. Misst die Geometrie von Komponenten mit Mikrometerpräzision.