Ytanalys
CSI Nordic kan med avancerad ytanalys lösa ytrelaterade problem. Det kan t.ex vara missfärgningar på metallytor, problem med ytrenheten hos material eller kanske vidhäftningsproblem hos skikt. Vi kan bestämma kemisk sammansättning och tjocklek hos nanometertjocka filmer eller mikrometertjocka metallbeläggningar.
Yttopografimätning och koordinatmätning
CSI Nordic utför topografisk mätning på produkter för att bestämma ytjämnhet och geometri. Vi utför mätning av makrogeometriska mått med koordinatmätmaskin och mäter ytjämnhet för att kontrollera att komponenter uppfyller toleranskraven. Topografisk mätning används ofta i samband med skadeutredningar för att kvantifiera omfattningen av ytskador som t.ex. korrosionsangreppets djup eller bortnött volym hos en sliten verktygsyta.
Kontakta oss så hjälper vi er gärna med att lösa ytrelaterade problem eller bestämma topografin på era komponenter och jämföra mot befintliga specifikationer.
Utrustning
- FT-IR spektrometer, Spectrum One Perkin Elmer. Organiska material som plaster, oljor, fetter etc
- Röntgenspektroskopi (EDX), Oxford PentaFETx3. Alla elektriskt ledande material
- Elektrondiffraktion (EBSD), Oxford Instruments HKL, NordlysF. Används för att bestämma faser och kornorientering
- Augerelektronspektroskopi (AES), PHI 700 Field Emission Scanning Auger Nanoprobe. Kemisk analys på nanometernivå. Endast elektriskt ledande material
- Svepelektronmikroskopi (SEM), Zeiss ULTRA 55. Alla material
- Sekundärjonmasspektrometri (ToF-SIMS), PHI TRIFT II, Kemisk analys på nanometernivå. Alla material
- Interferensprofilometri, Wyko NT9100. 3D-topografisk kartläggning på nanometernivå.
- Koordinatmätmaskin, Johansson Coordimatic CEJ 7000. Mäter geometrin hos komponenter med mikrometerprecision.