Interferensprofilometri
Denna analysteknik används för att kontaktlöst studera en ytas topografiska utseende. Provet belyses med vitljus och interferensen av reflekterade ljusstrålar mäts. Genom att variera avståndet till provet i höjdled och svepa över en yta skapas en 3D-avbildning av ytan. Typiska användningsområden är analyser och mätningar av ytfinhet (Ra-värde) hos maskinbearbetade detaljer, ytprofiler samt djup och storlek hos ytdefekter och nötta ytor. Vi kan analysera allt ifrån mycket släta ytor med nanometeravvikelser till grova ytor med millimeterstora avvikelser.
![Wyko interferensprofilometer Wyko interferensprofilometer](https://csinordic.com/wp-content/uploads/2018/05/wyko-interferensprofilometer.jpg)
Resultat (Exempel)
![Stenskott i färgbelagd plåt](https://csinordic.com/wp-content/uploads/2018/03/Stenskott-i-färgbelagd-plåt_-180x100.png)
3D-avbildning av stenskott i färgbelagd plåt.
![Repa-i-metallbelagd-plåt_](https://csinordic.com/wp-content/uploads/2018/03/Intryckning-i-metallbelagd-plåt_-300x159.png)
Repa i metallbelagd plåt.